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超音波掃瞄(SAT 檢測) - iST宜特

SAT 超音波可用來檢測晶片元件內部不同位置的脫層(Delaminaiton)、裂縫(Crack)、氣洞及粘著狀況，用於檢察IC封膠內缺陷 ... C-scan二維反射式平面檢測

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