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超聲掃描顯微鏡_百度百科

... 元器件、材料、晶圓等樣品內部的分層、空洞、裂縫等缺陷。 中文名. 超聲波掃描顯微鏡. 外文名. Scanning Acoustic Microscope. 簡稱. SAM C-SAM. 快速導航. 原理 ...

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