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溫溼度試驗(Temperature/Humidity)

Bias, Test Duration. HAST, 130±2 ℃, 85±5%, 33.3psia, V cc max, 96(-0,+2)Hrs ... 驗證分析. IC 電路修補. FIB 介紹與應用. IC 電路修改/點針墊偵錯 ...

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