... 物性故障分析(PFA),包括封裝去除(De-Cap)、層次去除(De-Layer)、掃描式電子顯微鏡(SEM)、歐傑電子能譜分析(Auger)、聚焦式離子束顯微鏡(FIB)等。
確定! 回上一頁