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XPS和AES的同属表面分析方法有什么不同 - 嘉峪检测网

... 检测俄歇电子的能量和强度，从而获得有关材料表面化学成分和结构的信息的方法。P. Auger 在1923 年发现了Auger效应. 俄歇电子能谱分析的基本原理

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