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表面分析之微區能譜應用技術-技術移轉-產業服務

運用場發射式歐傑電子顯微鏡(FE-AES)及微區表面化學電子能譜儀(μ-ESCA/XPS)協助表面成分與鍵結分析。 Abstract. Utilizing Field-emission Auger electron spectroscopy ( ...

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