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IC测试基本原理与ATE测试向量生成-测试测量 - 与非网

功能测试一般在ATE（Automatic Test Equipment）上进行，ATE测试可以根据器件在设计阶段的模拟仿真波形，提供具有复杂时序的测试激励，并对器件的输出进行 ...

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