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跳槽是否容易呢？多數IC設計公司所謂的芯片測試工程師

4.ATE測試，按階段，可以分成：CP(CircuitProbing)測試與FT(FinalTest)測試，即測試整片的晶圓Wafer（CP測試）和測試封裝好之后的單顆芯片Chip（FT測試） ...

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