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专用集成电路设计与电子设计自动化 - 第 110 頁 - Google 圖書結果

对母片进行测试时,利用产品测试仪的探针,将探针加到芯片待封装的引脚上,产品测试仪将测试程序产生的信号加到探针上,观察 ASIC 芯片的测试响应。测试仪可以在几百毫秒内 ...

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