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半導體晶圓AI瑕疵檢測篇 - 和全豐光電

AI瑕疵 檢流程為先取像後做影像前處理，使瑕疵與背景特徵上有所區別，再對照瑕疵規格以進行瑕疵之框選及定義種類。標註完成後，選用適當的類神經網路架構， ...

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