你即將離開本站

並前往https://today.line.me/tw/v2/article/jjD09r

如何利用表面分析工具，抓出半導體製程缺陷| 科技新報 - LINE ...

如圖一為典型AES 分析IC 鋁墊（Al pad）表面定性分析的結果，左圖能譜顯示表面偵測到殘留的元素有C、O、F 和Al；右圖是縱深（Depth profile）分析的 ...

確定！ 回上一頁

查詢 「aes分析」的人也找了：

  1. aes xps比較
    2.
  2. 歐傑電子能譜
    3.
  3. xps分析
    4.
  4. aes儀器原理
    5.
  5. auger電子
    6.
  6. sims分析
    7.
  7. Auger electron spectroscopy
    8.
  8. auger electron中文
    9.