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行政院國家科學委員會專題研究計畫期中進度報告 - NTU Scholars

的自我測試與自我校正/修復技術。 對ADC與DAC的設計而言，隨著IC製造. 進入奈米製程，新的問題與挑戰也不斷出. 現。首先是隨著元件尺寸縮小而逐漸下降. 的電源電壓， ...

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