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XRF螢光光譜儀 - 台灣大昌華嘉科學儀器 DKSH

X射線螢光(XRF)是可用於測定多種類型樣品(包括固體、液體、漿料和疏鬆粉末)化學成分的分析技術。 X 射線螢光還用於確定分層和塗層的厚度和成分。

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