XPS 分析能判斷試片中含有哪些不同元素的鍵結特徵峰,藉由特徵峰的面積大小能判斷其在試片中的含量多寡。從圖二(a) C1s圖譜中可以看出,(I)在284.5 eV有sp 2 的C=C;( ...
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