你即將離開本站

並前往https://www.oakbay.cc/a/202105/61649.html

晶片測試的幾個術語及解釋（CP FT WAT） - 橡樹文檔

wat 是wafer acceptancetest，對專門的測試圖形（test key）的測試，通過電引數來監控各步工藝是否正常和穩定；. cp是wafer level的chip probing，是 ...

確定！ 回上一頁

查詢 「WAT Test key」的人也找了：

  1. wat測試項目
    2.
  2. wat中文
    3.
  3. wat量測原理
    4.
  4. wafer acceptance test中文
    5.
  5. wat cp差異
    6.
  6. wat半導體
    7.
  7. Wafer Acceptance Test
    8.
  8. wat cp半導體
    9.