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芯片测试相关术语解释（CP、FT、WAT）-基础小知识（七）

晶圆生产出来后，在出晶圆厂之前，要经过一道电性测试，称为晶圆可接受度测试（WAT）。这个测试是测试在切割道（Scribe Line）上的测试键（TestKey） ...

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