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異質整合時代下先進測試新方向 - SEMI.org

... 與縮短的上市周期，更催生顛覆傳統的測試方法。傳統以單一元件個別測試(Final Test)的重要性已被晶圓級測試(Wafer Level Test)及系統級測試(System Level Test)取代。

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