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IC講解: 如何區分CP測試和FT測試 - 科技始終來自於惰性
IC講解: 如何區分CP測試和FT測試 ... CP是(Chip Probe)的縮寫,指的是晶片在wafer的階段,就通過探針卡扎到晶片管腳上對晶片進行效能及功能測試,有時候 ...
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