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致茂董座：先進製程帶動半導體系統測試需求強 - 經濟日報

... 如High Speed Wafer AOI相關設備、乃至定價120萬美元的系統級測試設備（FT & SLT Hybrid Test System 3200新機）等預料在今年都會有相當貢獻。

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