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芯片测试相关术语解释（CP、FT、WAT）-基础小知识（七）

FT测试 一般分为两个步骤：1）自动测试设备（ATE）2）系统级别测试（SLT）—2是必须项，1一般小公司可能用不起。ATE测试一般只需要几秒钟；SLT一般需要 ...

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