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穿透式電子顯微鏡 - 科學Online - 臺灣大學

SEM ：scanning electron microscopy 掃描式電子顯微鏡利用電磁透鏡聚焦高能的電子束而在試片掃描樣品依其所激發 ... TEM分析也有其限制，缺點包括：.

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