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6. SEM場發射電子顯微鏡 - 東海大學共同貴重儀器中心

Field Emission Scanning Electron Microscope ... 待測樣品應該具有適當、足夠的機械強度，以避免在進出電鏡、或在檢測的操作過程中，發生剝落、碎裂的狀況。

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