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奈米的量測工具

掃描式電子顯微鏡（scanning electron microscope；SEM）：. 它是以電子反射的方式來觀察 ... 檢測方式分為敲觸式、接觸式與非接觸式三種。原子力顯微鏡可分析薄膜表面 ...

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