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比较器-负载(DCL)器件及参数测量单元(PMU)芯片组的内置功能

在传统的半导体自动化测试中，DCL和PMU通过“选择继电器”交替地连接待测器件(DUT)。 本应用笔记详细说明了Maxim DCL (MAX9961/62、MAX9967/68)和PMU ...

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