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偏光式橢偏儀ME-210-T

產品名稱:偏光式橢偏儀ME-210-T. 規格: 重複再現性： 膜厚0.1 nm；折射率0.001. ※針對Si上的SiO2膜(膜厚大约100nm)進行單點測試100次的標準偏差. 最快測量速度：.

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