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KLA推出兩款新系統以應對半導體製造中最具挑戰的問題

KLA 的新型PWG5™圖案晶圓幾何形狀量測系統和Surfscan® SP7XP無圖形晶圓缺陷檢測系統支持高級邏輯、DRAM和3D NAND器件的開發和生產。 功能最強大的閃存建立 ...

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