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KLA全新缺陷檢測與檢視產品搶進先進製程商機 - 蘋果日報

半導體檢測設備大廠科磊（KLA）今日發布392x和295x光學缺陷檢測系統和eDR7380™電子束缺陷檢視系統。這些全新的檢測系統是公司旗艦圖案晶圓平台的 ...

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