你即將離開本站

並前往https://www.eettaiwan.com/20200325nt71-kla-inspection-system/

光學+電子束新一代晶圓檢測系統讓缺陷無所遁形

針對先進的3D NAND、DRAM和邏輯積體電路(IC)檢測需求，KLA不久前發佈了最新的392x和295x光學缺陷檢測系統和eDR7380電子束缺陷檢視系統。392x和295x ...

確定！ 回上一頁

查詢 「KLA 2935」的人也找了：

  1. kla defect inspection原理
    2.
  2. kla機台介紹
    3.
  3. KLA SP5
    4.
  4. kla 3925波長
    5.
  5. Kla defect inspection
    6.
  6. Wafer defect inspection
    7.
  7. KLA BBP
    8.
  8. KLA Surfscan SP5
    9.