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KLA推出X射線量測系統解決記憶體晶片製造量測挑戰

Axion T2000 透過發現能影響記憶體晶片性能的微小形狀異常，有助於確保成功生產用於像是5G、人工智慧（AI）、資料中心和邊緣運算等應用之記憶體晶片。 KLA ...

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