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KLA推出X射線量測系統

Axion T2000透過發現能影響記憶體晶片性能的微小形狀異常，有助於確保成功生產用於像是5G、人工智慧(AI)、資料中心和邊緣運算等應用之記憶體晶片。 Axion ...

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