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基於機器學習在半導體生產測試中提升品質方法

決策樹 ; 缺陷等級 ; IC測試 ; 機器學習 ; 生產測試 ; 隨機森林 ; 半導體品質 ... 在大量的測試項目中,很多的測試項目可能是多餘的或是與最後晶片的質量並無太大的關聯 ...

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