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射頻開關積體電路之測試方法改善__臺灣博碩士論文知識加值系統
晶圓(wafer)必須在最嚴苛條件環境下測試及篩檢,之後封裝最後組裝到產品上,因此, ... 利用測試機模擬IC在工作時是否符合當初設計之功能,並開發新的測試項目希望能 ...
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