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可靠度測試服務(RA) - MA-tek 閎康科技

半導體元件壽命試驗與早夭失效率評估（IC OLT and ELFR Test） ... 壽命測試相較於一般測試項目而言相對複雜，主要在於老化板（Burn-in Board）的設計與製作。

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