垂直面低掠角X光繞射儀(In-plane GID XRD)是研究各式材料晶體結構所不可或缺的利器。藉由X光繞射儀可量測材料的晶體結構資訊加以探討材料性質的變化,為一即時且兼具非破壞 ...
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