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場發射掃描式電子顯微鏡(FESEM-8010) - 國立清華大學材料 ...
場發射掃描式電子顯微鏡(FESEM-8010). 編號, 2. 位置, 材料科技館R115-C. 用途, 1.電子顯微鏡觀察(SEM):高倍率放大觀察元件、薄膜等微細結構或剖面結構
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