主要的項目包含，表面形貌觀察(SEM、BSEM、AFM)、成份分析(光譜分析、質譜分析、EDX)、結構分析(XRD、AES、ESCA、XPS)、鍵結分析(Raman 光譜、FTIR)之特性分析。
確定！ 回上一頁
