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場發射電子微探儀(FE-EPMA) - 國立清華大學貴重儀器中心

場發射電子微探儀(FE-EPMA) · 儀器開放年度：2020年 · 廠牌及型號：日本JEOL，JXA-iHP200F · 儀器性能：可做X光微區定性、定量分析與二次電子成像（SEI）， 反射電子成像（BEI ...

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