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目前研究主題-微系統力學設計與可靠度分析實驗室 - 清華大學

常見之關鍵可靠度問題，諸如高電流密度導致電致遷移（Electromigration，EM）效應於導線內部之孔洞成長；此外，內連接導線系統因材料間熱膨脹係數之不匹配，致使導線內部 ...

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