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电子迁移可靠度的测量方法- CN1241011C - Google Patents

本发明是有关于一种电子迁移可靠度(Elector MigrationReliability，EM Reliability)的测量方法，且特别是有关于一种通过周期性的提供脉冲波(Pulse)，以加速电子迁移可靠度 ...

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