PCB 離子遷移試驗(表面離子遷移SIR與導通孔CAF),動態高阻系統可監控PCB離子遷移發生的時間,並搭配Thermal掃描漏電位置,快速且正確定位。 • 溫度循環與冷熱衝擊試驗,除了 ...
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