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SEMICON：半導體量產測試邁向智慧化

... 測試​設備(ATE)的能力。 Advantest展示全方位IC測試方案. 愛德萬測試 ... 因應當今設計的大量閘數以及先進製程節點的複雜故障模型導致生產測試資料量激增， ...

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