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半導體產品老化壽命試驗- 可靠度驗證 - 華證科技

首頁 / 半導體驗證分析服務 / 可靠度驗證 / 老化壽命試驗 ... 而其可靠度試驗的關鍵項目在針對晶片老化壽命，實驗項目最普遍是以JEDEC 47或MIL-STD 883為基礎進行。

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