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飛行時間質譜儀原理
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TOF SIMS (飞行时间二次离子质谱仪)
飞行时间 二次离子质谱仪是一种利用二次离子的飞行时间来确定离子荷质比的多功能仪器,具有高灵敏度(高于百万分之一)、能实现对最外一两层原子的精确检测、快速并行 ...
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