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二次離子質譜儀(SIMS) - MA-tek 閎康科技

四極式質譜儀使用低能量離子源，有利於提高樣品表面的深度解析力，磁偏式質譜儀與四極式質譜儀皆屬於Dynamic SIMS，適用分析深度>1um，可以得到元素與同位素資料；飛行時間 ...

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