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霍爾效應測量系統HCS - 慧承國際有限公司

L79/HCS系統可用於半導體組件性能表徵，包括:遷移率，電阻率，載流子濃度和霍爾常數。 基本型提供不同形狀和溫度條件下所需的樣品支架。選配低溫（液氮）附件結合高溫 ...

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