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热疲劳试验方法六（电迁移（ECM）试验） - 常见问题

其中最容易产生电迁移或枝晶的金属元素是银、铅、锡及铜。图1.7是这些枝晶的典型代表。而这种失效往往不是一两个样品的失效,而是整批次的产品 ...

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