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應用電腦視覺技術於積體電路料盤辨識問題

本論文主要目的在於將電腦視覺應用於辨識料盤有無缺少IC裝載數量裝載數量。本方法可以輔助半導體產業，取代人工檢閱來減少異常的機率，改善產品良。

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