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icp ccp 原理

ICP-OES/MS(感應耦合電漿原子發射光譜儀/質譜) ICP（感應耦合電漿）分析技術可以定量測量材料的元素含量，範圍為ppt到wt%。只有C, H, O, N和鹵素不適用ICP測量。 固體樣品 ...

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