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完美晶体中正电子体寿命计算的几种方法的分析与比较 - 物理学报

以正电子寿命为探测对象的正电子湮没寿命谱技术在研究半导体等材料的微缺陷方面得到了广泛的应. 用, 它对晶体的结构类型、缺陷种类以及温度等十分敏感, 因此, ...

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