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超高解析度數位顯微鏡(3D OM) - iST宜特

各式電子產品中可能產生的缺陷，如：焊接吃錫不良。 錫球陣列封裝及覆晶片封裝中錫球的完整性檢驗，如﹕錫球變形。 各式主、被動元件外觀檢測分析。

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